北京恒奧德科技有限公司 010-51666869 傳 真:010-69807135 13120411557 18701256112 聯系人:李紅慧 1575574360 1321298635 1445496132 號院16號樓317 (北京市地質工程勘察院院內)
|
橢圓偏振測厚儀 偏振測厚儀 測厚儀 型號:TP-TPY-1
在近代科學技術的許多領域中對各種薄膜的研究和應用日益廣泛。因此,更加精確和迅速的測定給定薄膜的光學參數已變得更加迫切和重要。在實際工作中可以利用各種傳統的方法測定光學參數,如:布儒斯特角法測介質膜的折射率,干涉法測膜厚,其它測膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。由于橢圓偏振法具有靈敏度高、精度高、非破壞性測量等優點,因而,橢圓偏振法測量已在光學、半導體、生物、醫學等諸多領域得到廣泛應用。
北京恒奧德科技有限公司 010-51666869 傳 真:010-69807135 13120411557 18701256112 聯系人:李紅慧 1575574360 1321298635 1445496132 號院16號樓317 (北京市地質工程勘察院院內)
|